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BRUKER布魯克LumiMap電致發光測量系統

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BRUKER布魯克LumiMap電致發光測量系統

  • 單價:
    ¥1 1臺以上
  • 可售數量:
    10
  • 品牌名稱:
    BRUKER布魯克
  • 所在地:
    廣東深圳
  • 產品規格:
    布魯克LumiMap是電致發光測量系統
  • 包裝說明:
    木箱
  • 商品名稱:BRUKER布魯克LumiMap電致發光測量系統
  • 自定義分類:Bruker微納檢測儀器
  • 上架時間:2019/10/14 9:58
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產品關鍵詞: 電致發光測量系統,EPI譜學和電學測試,BRUKER布魯克,

布魯克LumiMap是電致發光測量系統,在一個簡單直觀的測試環境集成了所有的EPI譜學和電學測試功能,并提供即時數據,而無需任何晶片的前期處理和樣品制備。LumiMap系統利用無損接觸式探針,允許控制電流流過晶片,激發EPI的有源層,使其發光,快速準確的收集正像電壓、反向電流、發光強度和波長等數據。這種無損測試方法省去了銦點,酸清洗,處理晶片流程,快速精確的收集2-6寸晶片的反向IV特性、光譜強度、波長、Vf等譜學和電學性能指標。

最精準可靠的EPI質量檢測

?快速準確收集正向、反向IV特性,重復性高

?獲取電流激發光譜強度、波長、光譜寬度等譜學信息

?利用專利的探針設計和邊緣接觸技術,獲取精準、重復性高的Vf信息

?利用先進的IV測試模型,獲取器件整體性能指標

最簡便的EPI質量控制檢測

?只需幾分鐘即可獲取關鍵測試數據,大大縮短檢測時間

?無需任何晶片的前期處理和樣品制備,立即獲取MOCVD過程生產質量

?數秒時間完成無損、多點檢測

降低生產成本

機械控制測試平臺,提供直觀簡便的檢測軟件,幫助用戶在外延片生產過程中自定義多點晶片檢測,最簡便快捷地完成晶片質量控制工作。專利研制的導電探針,超長的使用壽命,大大降低檢測成本。此外,LumiMap的精準數據,即時提供GaN外延片制備過程中的性能指標,嚴格把握質量控制環節,確保更高的產量。

LumiMap電致發光檢測器件整體性能

GaN外延片的譜學和電學特性可以極大的影響器件的整體性能。外延片制備階段,提高產量,降低廢品率和提高這些系統的正常運行時間,嚴格檢測、控制波長、Vf等譜學和電學性能指標,從而提高晶片產量,減少廢料和改善使用時間,大大降低生產成本。



產品關鍵詞: 電致發光測量系統,EPI譜學和電學測試,BRUKER布魯克,
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